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光学显微镜观察薄砂粉

发布时间:2024/12/2234

光学显微镜观察薄砂粉
为了寻找烃类运移的痕迹,曾利用1, 3, 4, 6四口井(!沿纵剖而)徕卡显微镜心制作试样,从而得到荧光显微镜的分析数据。1号井于井深3045- 3165m钻到的达耶呼林组(N,dh是单一的巨厚硅质泥奥林巴斯显微镜夹有薄层粉砂显微镜。厚层泥显微镜中含有保存在二氧化硅中的轻沥青质,荧光为浅绿一黄色,发光强度38流明粉砂显微镜的透显微镜体和夹层中观察到逐渐转变为天蓝一绿的色调,交叉于硅质泥尼康显微镜的小裂缝中,发现带黄一橙黄色光的次生沥青质.其发光强度为45流明。井段3049-3054m泥显微镜中的沥青经过组分分析得到下列成分:油质占41.1%,胶质占32.64%,沥青质占25.26%。
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